位移測(cè)量模式輸出z方向的高度值,導(dǎo)入XY位移量后可直接輸出點(diǎn)云坐標(biāo)。這種模式與三坐標(biāo)、結(jié)構(gòu)光和激光三角測(cè)量方法一致,但不同的在于光譜共焦支持反射面的測(cè)量,并具有亞微米級(jí)別的測(cè)量精度。
位移測(cè)量模式可以適用于大多數(shù)精密尺寸測(cè)量場(chǎng)景,提供點(diǎn)、線(xiàn)、面多種方法測(cè)量采樣。點(diǎn)測(cè)量技術(shù)適用于測(cè)量物體振動(dòng)和液體高度,輸出方式不同時(shí)序的Z方向值來(lái)輔助分析。線(xiàn)測(cè)量可連續(xù)記錄運(yùn)動(dòng)樣品表面的Z方向值,供斷差檢測(cè)和2D尺寸分析用途。面測(cè)量研究提供樣品表面形成完整的三維形貌數(shù)據(jù),可進(jìn)行綜合性的包括粗糙度等項(xiàng)目在內(nèi)的分析。
厚度測(cè)量模式
光譜共焦法在測(cè)量玻璃、鏡片等透明樣品時(shí),不同波長(zhǎng)的兩束光在樣片正反表面聚焦,在導(dǎo)入樣品折射系數(shù)參數(shù)之后,可計(jì)算出該樣品的厚度值。相比于游標(biāo)卡尺等傳統(tǒng)的接觸式測(cè)量工具,光譜共焦測(cè)量擁有所有非接觸式光學(xué)測(cè)量的優(yōu)勢(shì),同時(shí)還具有單側(cè)測(cè)量即可獲取樣品厚度值的特性。
折射系數(shù)可以直接影響厚度測(cè)量的數(shù)據(jù)分析精度,因此在實(shí)際測(cè)量開(kāi)始時(shí)應(yīng)先確認(rèn)樣品的折射率。折射率可參考同類(lèi)產(chǎn)品材料的數(shù)值,但如需獲得一個(gè)更高精度的厚度測(cè)量研究結(jié)果,需借助折光儀測(cè)得樣品的折射率。
模式切換
光譜共焦的兩種測(cè)量模式可以在軟件界面中自由切換,無(wú)需重啟設(shè)備或系統(tǒng)。因此,無(wú)論是測(cè)量樣品的表面尺寸,還是測(cè)量透明材料的厚度,或者同時(shí)獲得透明樣品的外部尺寸和厚度的信息,光譜共焦測(cè)量技術(shù)都能從容應(yīng)對(duì)。
光譜共焦產(chǎn)品分類(lèi)
光譜共焦在外觀精密檢測(cè)中應(yīng)用廣泛,按產(chǎn)品類(lèi)別通??煞譃?a target="_blank">點(diǎn)光譜共焦位移傳感器和3D線(xiàn)光譜共焦傳感器。在2D檢測(cè)應(yīng)用中只需識(shí)別表面X/Y軸的特征,比如曲面度、粗糙度、段差等,此外采用特殊支架可實(shí)現(xiàn)Z方向的雙頭測(cè)厚;但是對(duì)于一些在線(xiàn)全檢的應(yīng)用需要檢測(cè)更多的測(cè)量區(qū)域,并且還要獲取被測(cè)物表面Z軸信息,這時(shí)候需要3D線(xiàn)光譜共焦傳感器來(lái)提升檢測(cè)的節(jié)拍。
海伯森技術(shù)(深圳)有限公司深耕工業(yè)視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)研發(fā),開(kāi)發(fā)出業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的光譜共焦系列傳感器產(chǎn)品,涉及2D和3D檢測(cè)領(lǐng)域,并能提供豐富的產(chǎn)品選型,滿(mǎn)足不同復(fù)雜檢測(cè)場(chǎng)景需要。值此一提的是,海伯森近日發(fā)布了一款新型同軸式檢測(cè)的3D線(xiàn)光譜共焦傳感器HPS-LCX1000,具備更為優(yōu)異的角度兼容性能,海伯森已然成為全球唯一一家同時(shí)具備同軸式/斜射式結(jié)構(gòu)、2D/3D檢測(cè)光譜共焦傳感器產(chǎn)品的制造商!
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